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在同級產(chǎn)品中，Park XE7能夠帶來Z高納米級分辨率的測量效果。得益于*的原子力顯微鏡架構(gòu)，即獨立的XY軸和Z軸柔性掃描器，XE7能夠?qū)崿F(xiàn)平滑、正交且線性的掃描測量，從而精確成像和測量樣品的特征。此外，Park所*的True Non-Contact™模式還能為您帶來*的圖像效果，探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會受影響。
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